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Solarius AOP 雙面厚度檢測設(shè)備 模塊化設(shè)計

簡要描述：AOP雙面厚度檢測設(shè)備能同步非接觸式測量產(chǎn)品表面和底面的對應(yīng)位置，有效避免由于接觸區(qū)域受力不均勻產(chǎn)生支撐面變形導致的測量誤差。不但能得到產(chǎn)品上每一個點的厚度值，還能分析得到平面度，平行度和每個面的幾何尺寸。
Solarius AOP 雙面厚度檢測設(shè)備 模塊化設(shè)計

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  • 廠商性質(zhì)：代理商
  • 更新時間：2022-11-17
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Solarius AOP 雙面厚度檢測設(shè)備 模塊化設(shè)計

AOP雙面厚度檢測設(shè)備能同步非接觸式測量產(chǎn)品表面和底面的對應(yīng)位置，有效避免由于接觸區(qū)域受力不均勻產(chǎn)生支撐面變形導致的測量誤差。不但能得到產(chǎn)品上每一個點的厚度值，還能分析得到平面度，平行度和每個面的幾何尺寸。
● 快速準確的厚度測量
● 模塊化設(shè)計
● 高效率的大測量面積
● 靈活且易于自動化
● 定制的用戶界面
● 定制數(shù)據(jù)分析
● 非接觸非破壞性
    AOP-厚度平臺配了高精度XY工作臺，測量范圍最大為400x400毫米。兩個高速線或點傳感器可實現(xiàn)2至145毫米的高度測量范圍，垂直分辨率為0.2至5微米。Solarius SolarScan軟件提供了自動化功能以及定制的配方。模塊化的系統(tǒng)設(shè)計為定制分析工具提供了較大的靈活性。

Solarius AOP 雙面厚度檢測設(shè)備 模塊化設(shè)計


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